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产品名称:

火花直读光谱仪

产品型号: M5000
产品产地: 中国大陆
访问次数: 1448
发布时间: 2017/6/22 15:50:03
M5000火花直读光谱仪主要用于黑色和有色金属材料成分分析,通过特定波长光谱的强度高低定量分析金属中元素含量的高低,探测下限可达到ppm级,是合金材料研发、金属原材料生产、装备制造、重大技术设备的关键金属零部件部件质量控制等方面不可或缺的精密分析仪器。
M5000火花直读光谱仪

1.1 全谱采集分析技术

  M5000台式火花直读光谱仪采用的全谱采集分析技术可以获得140nm-680nm之间数万条高分辨率的原子发射谱线信息,进而实现多基体、多元素的分析;通过谱线的合理选择和多条谱线的结合,有效提高分析精度,扩展分析范围,实现了仪器的通用性。

 

2 PMTCCD结构示意图

 

1.2 扣除背景干扰技术

  全谱测量采用CCD作为检测器,一条谱线可以获得多个测量数据,通过全谱测量数据可以准确还原出光谱像面上的谱线轮廓,从而扣除背景干扰。

1.3 矩阵式多特征谱线建模技术

利用元素的多条特征谱线以及多条内标元素的特征谱线同时作用,建立分析模型,从而避免了传统基于PMT的直读光谱仪利用单条特征谱线建立模型,所存在的分析模型建立过程复杂、分析过程需要人工干预、分析结果稳定性差的问题。

1.4 校正谱线干扰技术

   原子发射光谱的谱线非常丰富,分布密集,谱线干扰情况普遍。M5000全谱直读光谱仪可以在获得光谱轮廓信息后,通过曲线拟合的方式提取出有用的谱线信息,从而消除干扰元素对分析结果的影响

1.5 智能回归式全谱漂移校正技术

新型直读光谱仪同传统的直读光谱仪都存在光谱漂移的问题,传统直读光谱仪发生漂移后,需要专业操作人员进行描迹,重新定峰位,另一方面稳定性较差,如果仪器各通道的漂移不一致,则无法校正;而新型直读光谱仪,具有独创的智能回归式全谱漂移校正技术,利用全谱丰富的谱线信息,计算机智能完成校正过程,操作简单,且校正效果好。

利用全谱丰富的谱线信息,计算机智能完成校正过程操作简单,取代传统的描迹校正,提高仪器的易用性,且校正效果好。

1.6 扩展性好

全谱采集,在扩展应用时,无需做硬件改动,扩展性能好,增加元素或基体只需通过标样建立曲线即可。

2. 独特的双光室结构

M5000台式火花直读光谱仪采用双光室设计,有两种取光方式:光纤取光(激发态到可见光室用光纤连接),直接取光(激发态与紫外光室直接相连)

  单光室设计中,紫外谱线光强仅为其他可见谱线光强的1%;双光室设计优点在于不影响可见谱线测量的同时,可以单独接受紫外谱线光强,从而可以极大的提高对于紫外谱线光强的测量精度。

  紫外光室采用充氩气配置,提供更为纯净的光室环境,从而使得对于紫外谱线光强的探测能力更为加强。

  紫外光室配备了更高刻线的光栅,有效的提升了紫外光室的分辨率与信噪比,从而改善了对于C, P, S, N 等元素的测量精度。

 

3 M5000台式火花直读光谱仪双光室结构图

M5000台式火花直读光谱仪技术水平及情况

M5000台式火花直读光谱仪创新性的提出了TDSA光谱时域离散式分析技术、矩阵式多特征谱线建模技术、智能光谱漂移校正技术等多项技术,充分扣除光背景,减小“分子辐射”、“韧致辐射”所带来的噪声,优化了分析模型,实现自动校正光谱漂移,从而提升了分析的准确度和一起的易用性。

3 M5000台式直读光谱仪质量档次说明表

项目产品关键技术

关键技术水平

关键技术对产品性能指标的提升

全光谱采集技术

 

实现多基体多元素分析,扩大分析范围

可编程脉冲全数字光源技术

 

实现分析波形可变,用*合适的分析波形分析对应的元素,提高分析准确性,稳定性

创新的TDSA光谱时域离散式分析技术

 

减小“分子辐射”、“韧致辐射”所带来的噪声,提高分析准确性,稳定性

创新的矩阵式多特征谱线建模技术

 

利用多条特征谱线建模,避免了一条谱线建模容易受干扰的问题,提高分析准确性,稳定性

智能光谱漂移校正技术

 

取代传统的描迹校正,提高仪器的易用性

可见与紫外双光室设计

 

国内首台双光室设计,提高紫外光谱强度,提高紫外波动分析准确性

光学系统小型化技术

 

国内首台台式直读光谱仪,增加了光学系统稳定性,降低了光室加热功耗,缩短稳定时间

光室充氩气技术

 

国内首台充氩设计

去除了传统的真空泵,提高了可靠性提高了分析准确性

 

4 M5000台式火花直读光谱仪

 

 

序号

 

名称

类型

申请日

(申请)号

状态

1

一种自动校准方法及装置

发明

2010-11-19

ZL201010565976.5

授权

2

一种光谱分析方法

发明

2010-12-31

ZL201010622416.9

授权

3

一种光谱分析方法

发明

2010-12-31

ZL201010622421.X

授权

4

一种光谱分析仪和光谱分析方法

发明

2011-12-29

ZL201110461548.2

授权

5

基于光谱检测技术的检测方法

发明

2011-12-30

201110461623.5

受理

6

一种采集光谱背景的装置

实用新型

2010-12-10

ZL201020670746.0

授权

7

一种光谱分析仪

实用新型

2011-12-29

ZL201120577502.2

授权

更新时间:2024/6/18 8:39:16


标签:火花直读光谱仪   金属分析直读光谱仪   合金分析光谱仪   
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